发明名称 一种测定取向硅钢取向度的方法
摘要 本发明公开了一种测定取向硅钢取向度的方法,包括如下步骤:步骤一、将钢板切成多个长方形窄条,将多个长方形窄条叠摞成组合试样,所述组合试样的待测面由长方形窄条垂直于轧向的截面组成;步骤二、通过X-射线衍射仪测量待测面晶粒的<uvw>的晶轴密度;步骤三、将测得的待测面晶粒的<uvw>的晶轴密度带入下述公式计算出组合试样(2)的取向度:G=P001/∑Puvw,其中,G是组合试样的取向度,P001和PUVW分别是测得的<001>晶粒和其它<uvw>晶粒的晶轴密度。相对于现有技术,本发明具有统计学意义上的优势,同时工作效率大为提高,可以广泛应用于取向硅钢的生产和研究领域。
申请公布号 CN103558239A 申请公布日期 2014.02.05
申请号 CN201310576260.9 申请日期 2013.11.18
申请人 武汉钢铁(集团)公司 发明人 李长一;石文敏;郭小龙;方泽民;黎世德;毛炯辉;杨佳欣
分类号 G01N23/20(2006.01)I 主分类号 G01N23/20(2006.01)I
代理机构 武汉开元知识产权代理有限公司 42104 代理人 王和平;陈懿
主权项 一种测定取向硅钢取向度的方法,其特征在于:包括如下步骤:步骤一、将钢板切成多个长方形窄条(1),将多个长方形窄条(1)叠摞成组合试样(2),所述组合试样(2)的待测面(2.1)由长方形窄条垂直于轧向的截面组成;步骤二、通过X‑射线衍射仪测量待测面(2.1)晶粒的<uvw>的晶轴密度;步骤三、将测得的待测面(2.1)晶粒的<uvw>的晶轴密度带入下述公式计算出组合试样(2)的取向度:G=P001/∑Puvw,其中,G是组合试样(2)的取向度,P001和PUVW分别是测得的<001>晶粒和其它<uvw>晶粒的晶轴密度。
地址 430080 湖北省武汉市武昌友谊大道999号A座15层
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