发明名称 |
一种测定取向硅钢取向度的方法 |
摘要 |
本发明公开了一种测定取向硅钢取向度的方法,包括如下步骤:步骤一、将钢板切成多个长方形窄条,将多个长方形窄条叠摞成组合试样,所述组合试样的待测面由长方形窄条垂直于轧向的截面组成;步骤二、通过X-射线衍射仪测量待测面晶粒的<uvw>的晶轴密度;步骤三、将测得的待测面晶粒的<uvw>的晶轴密度带入下述公式计算出组合试样(2)的取向度:G=P001/∑Puvw,其中,G是组合试样的取向度,P001和PUVW分别是测得的<001>晶粒和其它<uvw>晶粒的晶轴密度。相对于现有技术,本发明具有统计学意义上的优势,同时工作效率大为提高,可以广泛应用于取向硅钢的生产和研究领域。 |
申请公布号 |
CN103558239A |
申请公布日期 |
2014.02.05 |
申请号 |
CN201310576260.9 |
申请日期 |
2013.11.18 |
申请人 |
武汉钢铁(集团)公司 |
发明人 |
李长一;石文敏;郭小龙;方泽民;黎世德;毛炯辉;杨佳欣 |
分类号 |
G01N23/20(2006.01)I |
主分类号 |
G01N23/20(2006.01)I |
代理机构 |
武汉开元知识产权代理有限公司 42104 |
代理人 |
王和平;陈懿 |
主权项 |
一种测定取向硅钢取向度的方法,其特征在于:包括如下步骤:步骤一、将钢板切成多个长方形窄条(1),将多个长方形窄条(1)叠摞成组合试样(2),所述组合试样(2)的待测面(2.1)由长方形窄条垂直于轧向的截面组成;步骤二、通过X‑射线衍射仪测量待测面(2.1)晶粒的<uvw>的晶轴密度;步骤三、将测得的待测面(2.1)晶粒的<uvw>的晶轴密度带入下述公式计算出组合试样(2)的取向度:G=P001/∑Puvw,其中,G是组合试样(2)的取向度,P001和PUVW分别是测得的<001>晶粒和其它<uvw>晶粒的晶轴密度。 |
地址 |
430080 湖北省武汉市武昌友谊大道999号A座15层 |