发明名称 静电容量结合方式触控面板
摘要 本新型提供一种使用含有抑制导电特性变动之金属奈米线之导电膜,实现高品质之利用静电容量结合之检测之静电容量结合方式触控面板及其制造方法。;本新型系于静电容量结合方式触控面板中,于透明基板101上设置有检测XY位置座标之透明电极103、104,藉由静电容量结合而检测对透明电极103、104触控之位置之触控面板。透明电极103、104包含使透明树脂中含有金属奈米线之导电膜。而且,具有连接电极106,该连接电极106积层于导电膜之一部分表面,与自透明树脂之表面层露出之金属奈米线接合,且与用以触控面板之外部电路连接之引出配线105连接。
申请公布号 TWM471625 申请公布日期 2014.02.01
申请号 TW102212292 申请日期 2013.06.28
申请人 日立化成股份有限公司 日本 发明人 田中顺
分类号 G06F3/041 主分类号 G06F3/041
代理机构 代理人 陈长文 台北市松山区敦化北路201号7楼
主权项
地址 日本
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