半导体测试装置

摘要

本发明之目的在于提供运用上之便利性高、能有效率地进行时滞调整之半导体测试装置。;本发明半导体测试装置系对于半导体装置施加测试讯号并依据得到之讯号进行前述半导体装置之测试，具备驱动器接脚区块，包含：多数驱动器，产生前述测试讯号；至少一调整用比较器，用于进行与前述驱动器之输出端连接之前述驱动器之时序调整用；基准讯号输入端，输入用以进行前述调整用比较器之时序调整的基准讯号。