用以使用受串列控制资源来测试元件之方法及装置

摘要

在此揭示一种用以使用受串列控制资源来测试元件之方法与装置。本发明的范例系有关于用于测试一受测元件(DUT)之装置。在部分范例中，一装置可包括具有耦接至多个测试电路之一个串列化输入的一积体电路(IC)，此等测试电路会响应于在串列化输入上之一测试控制信号来选择性地将多个测试信号对该DUT传送。