发明名称 红外线透镜穿透率量测装置
摘要 本发明系有关一种红外线透镜穿透率量测装置,其依序包括一红外线发光部、一光线调整透镜、一第一检测位置、一设有待测红外线透镜的待测部、一第二检测位置及一检知器,前述各元件与元件之间,以及元件与位置之间,皆具有相同距离,其为2f,且f同时为光线调整透镜与待测红外线透镜之焦距;红外线发光部发出之红外光线系可穿透前述各元件及位置,当检知器于第一、第二检测位置间移动,可分别得到穿透待测红外线透镜之前与之后之红外光线的第二、第四红外光线最大光强度值,再将第二红外光线最大光强度值除以第四红外光线最大光强度值;即求得待测红外线透镜之穿透率,故,本案兼具可精准测出红外线透镜之穿透率与成本低等优点及功效。
申请公布号 TWI425202 申请公布日期 2014.02.01
申请号 TW099124107 申请日期 2010.07.22
申请人 中华学校财团法人中华科技大学 台北市南港区研究院路3段245号 发明人 李世文;陈德请
分类号 G01N21/59 主分类号 G01N21/59
代理机构 代理人 赵元宁 台中市南区建国南路1段263号2楼
主权项
地址 台北市南港区研究院路3段245号