Method for measuring the lifetime of charge carriers in multicrystalline materials and a device for measuring the lifetime of charge carriers,申请号PL20090389722-传众专利搜索

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发明名称	Method for measuring the lifetime of charge carriers in multicrystalline materials and a device for measuring the lifetime of charge carriers
摘要
申请公布号	PL215722(B1)	申请公布日期	2014.01.31
申请号	PL20090389722	申请日期	2009.11.30
申请人	INSTYTUT TECHNOLOGII ELEKTRONOWEJ	发明人	PIOTROWSKI TADEUSZ
分类号	G01R31/26;H01L21/66	主分类号	G01R31/26
代理机构		代理人
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