发明名称 Verfahren zur Herstellung eines integrierten Halbleiter-Schaltkreises
摘要 <p>Es wird ein Verfahren zu Herstellung eines integrierten Halbleiter-Schaltkreises (IC) offenbart. Das Verfahren umfasst das Erhalten einer Halbleitervorrichtung. Das Verfahren umfasst auch das Ausbilden einer Stufen-Bildenden-Hartmaske (SFHM) auf einem MG-Stapel in einem vorbestimmten Bereich auf dem Halbleitersubstrat, das Ausführen einer MG-Vertiefung, das Ablagern einer MG-Hartmaske auf dem Halbleitersubstrat und das Vertiefen der MG-Hartmaske, um die MG-Hartmaske in dem vorbestimmten Bereich vollständig von dem MG-Stapel zu entfernen.</p>
申请公布号 DE102013104014(A1) 申请公布日期 2014.01.30
申请号 DE201310104014 申请日期 2013.04.22
申请人 TAIWAN SEMICONDUCTOR MANUFACTURING CO., LTD. 发明人 LIANG, MIN-CHANG;LIN, CHIE-LUAN;WU, YAO-KWANG
分类号 H01L21/283;H01L21/768;H01L21/8234 主分类号 H01L21/283
代理机构 代理人
主权项
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