发明名称 一种薄膜电容器寿命预测方法
摘要 本发明公开了一种薄膜电容器寿命预测方法,其主要是根据薄膜电容器的实际使用条件,包括使用场所的温度、湿度、电容器所承受的电流波形、电压波形及频率,通过采用可编程温湿度控制箱模拟电容器的工作环境条件,采用专用信号发生器产生同电容器工作时相同的电流电压波形,通过加速试验方法,和对试验前后电容器参数变化量的计算,利用理论公式和经验公式对电容器的寿命进行预测。本发明测试时间短且测试结果准确、可靠。
申请公布号 CN103543346A 申请公布日期 2014.01.29
申请号 CN201210240751.1 申请日期 2012.07.12
申请人 四川云翔电子科技有限公司 发明人 晋华会;何进;黄献文;赵雪飞
分类号 G01R31/00(2006.01)I 主分类号 G01R31/00(2006.01)I
代理机构 成都天嘉专利事务所(普通合伙) 51211 代理人 方强
主权项 一种薄膜电容器寿命预测方法,其特征在于:包括如下试验步骤:A、利用温度计和湿度计对需要测试的薄膜电容器的使用环境的温度、湿度进行测定并记录在案;B、对需要测试的薄膜电容器实际工作时的电流、电压、频率和波形进行了解或测量,利用信号发生器产生与薄膜电容器工作电压、电流频率和波形一致的电信号;C、根据步骤A、B步骤中薄膜电容器的温度、湿度和薄膜电容器工作是的电压、电流、波形及频率,结合电容器的材质和自身特性,确定好试验方案,方案内容包括试验时采用的温度、湿度、电压、电流、波形及频率和试验时间,根据上述参数简历寿命预测的数学模型;D、将需要测试的薄膜电容器进行编号;E、将步骤D已经编完号的薄膜电容器进行电参数测试、记录好每只电容器的测试值;F、将测试好的薄膜电容器放置在夹具上,将夹具和薄膜电容器一起放入可编程温湿度控制箱,开启可编程温湿度控制箱电源,根据实验方案做好温度、湿度编程,待可编程温湿度控制箱内温度、湿度达到步骤C中的温度和湿度时开启信号发生器,将步骤C中预定的温度、湿度、电压、电流、波形及频率施加到薄膜电容器上,开始计时,试验过程中对失效电容器的编号和失效时间进行记录;G、到步骤C中的试验时间后关闭可编程温湿度控制箱和信号发生器,取出试验产品,在常温下放置4小时以上,对电容器参数进行测试; H、根据试验过程中电容器失效的时间数量和未失效电容器参数变化量,利用试验方案中建立的数学模型,对电容器的寿命进行预测。
地址 629000 四川省遂宁市德泉路微电子园B区
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