发明名称 |
一种正负胶工艺结合的微带线制造方法 |
摘要 |
本发明公开了一种正负胶工艺结合的微带线的制造方法,包括以下步骤:1)在玻璃片或者硅片上旋涂一层正胶作为器件释放的牺牲层;2)在正胶上用磁控溅射工艺沉积一层Cu金属作为电镀的种子层;3)在上述的Cu种子层上涂正胶,并光刻;4)电镀Ni作为微带线接地层;5)溅射Cu金属层;6)在上述得到的Cu层上面涂覆SU-8胶并光刻;7)溅射Cr/Cu电镀种子层;8)在SU-8介质层上涂胶、光刻;9)电镀微带线;10)用溶剂将正胶溶解,使以SU-8胶作为介质层的微带线器件从玻璃或硅片上释放下来。 |
申请公布号 |
CN103545589A |
申请公布日期 |
2014.01.29 |
申请号 |
CN201310485962.6 |
申请日期 |
2013.10.16 |
申请人 |
北京理工大学 |
发明人 |
李建华;徐立新;陈和峰;卢冲赢 |
分类号 |
H01P11/00(2006.01)I;B81C1/00(2006.01)I |
主分类号 |
H01P11/00(2006.01)I |
代理机构 |
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代理人 |
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主权项 |
一种正负胶工艺结合的微带线制造方法,其特征在于包括以下步骤:第一步,在玻璃或者硅片上涂覆正胶作为器件释放的牺牲层;第二步,在正胶上溅射电镀种子层并涂胶、光刻,电镀Ni作为接地层;第三步,在上述得到的基片上溅射一层Cu金属层;第四步,涂覆SU‑8光刻胶并光刻出图形;第五步,在上述得到的图形上溅射Cr/Cu种子层;第六步,涂胶、光刻出微带线图形;第七步,电镀Ni/Au微带线;第八步,溶解掉正胶,得到以SU‑8光刻胶为介质层的微带线。 |
地址 |
100081 北京市海淀区中关村南大街5号 |