发明名称 一种带或未带氧化层的金相试样的制样方法
摘要 本发明涉及一种带或未带氧化层的金相试样的制样方法,属于金相试样的制样技术领域。未带氧化层的金相试样,取样之后进行化学镀镍,然后再将试样进行镶嵌;其边缘可获得良好的导电性,从而获得满意的图像。带有氧化层的金属试样,取样之后利用溅射镀膜机在试样表面镀金,然后进行化学镀镍,再将试样进行镶嵌。利用溅射镀膜机在带有氧化层的金属试样表面镀金以后,试样表面覆盖着一层细小颗粒状的金,这种表面本身处于活化状态,不需要进行催化处理就可进行化学镀镍,当试样放入化学镀液后,沉积反应立即发生。实验证明,经过溅射喷镀金后的带氧化层的试样,在酸性化学镀液和碱性化学镀液中均可顺利地进行化学镀镍。
申请公布号 CN103543054A 申请公布日期 2014.01.29
申请号 CN201310508755.8 申请日期 2013.10.25
申请人 国家电网公司;国网山东省电力公司电力科学研究院 发明人 岳增武;李辛庚;王学刚;闫风洁;樊志彬;郭凯;肖世荣;张都清;邵明星
分类号 G01N1/28(2006.01)I 主分类号 G01N1/28(2006.01)I
代理机构 济南泉城专利商标事务所 37218 代理人 袁敬清
主权项 一种未带氧化层的金相试样的制样方法,其特征在于,取样之后在试样表面进行化学镀镍,然后再将试样进行镶嵌。
地址 250003 山东省济南市市中区二环南路1号