发明名称 |
用于MOS晶体管的设备和方法 |
摘要 |
本发明涉及了一种MOS晶体管,其包括第一导电性的衬底、形成在该衬底上方的第一导电性的第一区域、形成在第一区域中的第一导电性的第二区域、形成在第二区域中的第二导电性的第一漏极/源极区域、第二导电性的第二漏极/源极区域、以及第一导电性的主体接触区域,其中,从上向下看去,该主体接触区域和第一漏极/源极区域以交替的方式形成。本发明还提供了一种用于MOS晶体管的设备和方法。 |
申请公布号 |
CN103531629A |
申请公布日期 |
2014.01.22 |
申请号 |
CN201310001060.0 |
申请日期 |
2013.01.04 |
申请人 |
台湾积体电路制造股份有限公司 |
发明人 |
周学良;伍震威;苏柏智;柳瑞兴 |
分类号 |
H01L29/78(2006.01)I;H01L27/088(2006.01)I;H01L29/06(2006.01)I |
主分类号 |
H01L29/78(2006.01)I |
代理机构 |
北京德恒律治知识产权代理有限公司 11409 |
代理人 |
章社杲;孙征 |
主权项 |
一种半导体器件,包括:第一导电性的衬底;所述第一导电性的第一区域,形成在所述衬底上方;所述第一导电性的第二区域,形成在所述第一区域中,其中,所述第二区域的掺杂密度高于所述第一区域的掺杂密度;第二导电性的第一漏极/源极区域,形成在所述第二区域中;所述第二导电性的第二漏极/源极区域,形成在所述衬底中并且远离所述第一源极/漏极区域;以及所述第一导电性的拾取区域,形成在所述第二区域中并且邻近所述第一漏极/源极区域。 |
地址 |
中国台湾新竹 |