发明名称 用于MOS晶体管的设备和方法
摘要 本发明涉及了一种MOS晶体管,其包括第一导电性的衬底、形成在该衬底上方的第一导电性的第一区域、形成在第一区域中的第一导电性的第二区域、形成在第二区域中的第二导电性的第一漏极/源极区域、第二导电性的第二漏极/源极区域、以及第一导电性的主体接触区域,其中,从上向下看去,该主体接触区域和第一漏极/源极区域以交替的方式形成。本发明还提供了一种用于MOS晶体管的设备和方法。
申请公布号 CN103531629A 申请公布日期 2014.01.22
申请号 CN201310001060.0 申请日期 2013.01.04
申请人 台湾积体电路制造股份有限公司 发明人 周学良;伍震威;苏柏智;柳瑞兴
分类号 H01L29/78(2006.01)I;H01L27/088(2006.01)I;H01L29/06(2006.01)I 主分类号 H01L29/78(2006.01)I
代理机构 北京德恒律治知识产权代理有限公司 11409 代理人 章社杲;孙征
主权项 一种半导体器件,包括:第一导电性的衬底;所述第一导电性的第一区域,形成在所述衬底上方;所述第一导电性的第二区域,形成在所述第一区域中,其中,所述第二区域的掺杂密度高于所述第一区域的掺杂密度;第二导电性的第一漏极/源极区域,形成在所述第二区域中;所述第二导电性的第二漏极/源极区域,形成在所述衬底中并且远离所述第一源极/漏极区域;以及所述第一导电性的拾取区域,形成在所述第二区域中并且邻近所述第一漏极/源极区域。
地址 中国台湾新竹