| 发明名称 | 一种机电产品可靠性增长摸底试验方法及其装置 | ||
| 摘要 | 本发明公开了一种机电产品可靠性增长摸底试验方法能够在短时间内对产品的可靠性进行有效的测试，同时具有较高的精度和准确性。该装置采用本发明提供的机电产品可靠性增长摸底试验方法进行可靠性增长摸底试验。 | ||
| 申请公布号 | CN103530444A | 申请公布日期 | 2014.01.22 |
| 申请号 | CN201310439416.9 | 申请日期 | 2013.09.24 |
| 申请人 | 航天科工防御技术研究试验中心 | 发明人 | 张生鹏 |
| 分类号 | G06F17/50(2006.01)I | 主分类号 | G06F17/50(2006.01)I |
| 代理机构 | 北京风雅颂专利代理有限公司 11403 | 代理人 | 李弘;陈安平 |
| 主权项 | 一种机电产品可靠性增长摸底试验方法，其特征在于，试验时间根据下述公式确定； <mrow> <mi>T</mi> <mo>=</mo> <msup> <mrow> <mo>(</mo> <mfrac> <mrow> <msup> <mi>t</mi> <mi>m</mi> </msup> <mi>ln</mi> <mi>β</mi> <mo>/</mo> <mi>ln</mi> <msub> <mi>R</mi> <mi>L</mi> </msub> </mrow> <mi>n</mi> </mfrac> <mo>)</mo> </mrow> <mrow> <mn>1</mn> <mo>/</mo> <mi>m</mi> </mrow> </msup> <mo>-</mo> <mo>-</mo> <mo>-</mo> <mrow> <mo>(</mo> <mn>4</mn> <mo>)</mo> </mrow> </mrow>其中，t为任务时间，m为形状参数，β为使用方风险，RL可靠性摸底试验要求值，n为试验所采用的参试产品个数。 | ||
| 地址 | 100085 北京市海淀区永定路50号 | ||