发明名称 | 一种芯片测试模式的防护方法 | ||
摘要 | 本发明提出一种抵御非法进入芯片测试模式的防护方法。在对进入芯片测试模式有安全要求的各种安全芯片中,如电子身份证、金融卡、社保卡、公交卡芯片等,本发明可以保护芯片的测试模式不被非法侵入,从而提高对芯片内部资源的安全保护强度。 | ||
申请公布号 | CN103530575A | 申请公布日期 | 2014.01.22 |
申请号 | CN201210236252.5 | 申请日期 | 2012.07.04 |
申请人 | 北京中电华大电子设计有限责任公司 | 发明人 | 王连成;苏杨;陈波涛 |
分类号 | G06F21/70(2013.01)I | 主分类号 | G06F21/70(2013.01)I |
代理机构 | 代理人 | ||
主权项 | 一种芯片测试模式的保护方法,其特征在于在芯片内部和划片槽中放置结构对称电路,通过芯片内部嵌入的随机信号发生源为芯片内部和划片槽中放置的结构对称电路提供随机输入信号,芯片在每次随机输入信号发生变化后,对芯片内部和划片槽中的结构对称电路的输出信号进行比对检测,并根据检测结果判断芯片的测试电路是否被非法攻击,保护芯片工作。 | ||
地址 | 100102 北京市朝阳区利泽中二路2号望京科技创业园A座五层 |