一种键合线弧高测试夹具

摘要

本实用新型公开了一种键合线弧高测试夹具，包括夹具主体，所述夹具主体的上表面设置有倒L型凹槽，所述倒L型凹槽的长斜面与短斜面之间相互垂直。通过将待测试的管壳放置在一定倾斜角度的夹具上，可借助显微镜测量键合线投影的长度，根据相应的公式计算出弧高，该方法测量的键合线弧高精度在±20μm，满足电路设计对封装键合线的测量要求，很好地解决微波器件在封装键合过程中的弧高测量问题，且结构简单、成本低，便于使用和维护。

主权项

一种键合线弧高测试夹具，包括夹具主体（1），其特征在于：所述夹具主体（1）的上表面设置有倒L型凹槽，所述倒L型凹槽的长斜面（11）与短斜面（12）之间相互垂直。