发明名称 |
记录介质 |
摘要 |
记录介质在基材上包括墨接受层,其中该墨接受层含有水合氧化铝、C1-4烷基磺酸和通式(1):X1-R1-(S)n-R2-X2的化合物的盐,其中n表示1或2;X1和X2各自独立地表示H、NH2或COOH,并且X1和X2的至少一个表示NH2或COOH;R1和R2各自独立地表示亚烷基、亚芳基或亚杂芳基,并且它们可彼此键合以形成环,设C1-4烷基磺酸的比例为A质量%,相对于水合氧化铝时,A在1.0-2.0的范围内,并且设通式(1)的化合物的盐的比例为B质量%,相对于水合氧化铝时,B在0.5-5.0的范围内。 |
申请公布号 |
CN102336083B |
申请公布日期 |
2014.01.22 |
申请号 |
CN201110196315.4 |
申请日期 |
2011.07.14 |
申请人 |
佳能株式会社 |
发明人 |
仁藤康弘;加茂久男;野口哲朗;田栗亮;小栗勲;苏秀儿 |
分类号 |
B41M5/50(2006.01)I |
主分类号 |
B41M5/50(2006.01)I |
代理机构 |
中国国际贸易促进委员会专利商标事务所 11038 |
代理人 |
李帆 |
主权项 |
记录介质,包括: 基材上的墨接受层, 其中该墨接受层含有水合氧化铝、具有1‑4个碳原子的烷基磺酸和由通式(1)表示的化合物的盐: X1‑R1‑(S)n‑R2‑X2(1)其中n表示1或2;X1和X2各自独立地表示H、NH2或COOH,并且X1和X2中的至少一个表示NH2或COOH;R1和R2各自独立地表示亚烷基、亚芳基或亚杂芳基,并且R1和R2可彼此键合以形成环,和 其中相对于水合氧化铝,设具有1‑4个碳原子的烷基磺酸的比例为A质量%时,A在1.0‑2.0的范围内,并且相对于水合氧化铝,设由通式(1)表示的化合物的盐的比例为B质量%时,B在0.5‑5.0的范围内。 |
地址 |
日本东京 |