发明名称 |
一种珍珠珠层厚度的无损检测方法 |
摘要 |
本发明公开了一种珍珠珠层厚度的无损检测方法,包括:利用X射线放射源逐一照射两个待测物体,得到两个初始图像;依据像素点的灰度值,判断一个像素点是否为边界点,从而从初始图像中识别出待测物体图像的所有的边界点;对于标准球体,利用识别出的边界点拟合成一个圆,并以该圆的半径为标准球体图像的半径R0;对于待测珍珠,利用识别出的边界点拟合成三个同心圆,其中,以位于中心的一个圆的半径为珠核图像的半径R2,以位于最外侧的一个圆的半径为待测珍珠图像的半径R1;待测珍珠的半径为r1=μR1,珠核的半径为r2=μR2,则珠层厚度为r=r1-r2,其中,比例系数μ=r0/R0,r0为标准球体的半径。本发明实现了珠层厚度的计算,测量结果更为准确。 |
申请公布号 |
CN103528549A |
申请公布日期 |
2014.01.22 |
申请号 |
CN201310477360.6 |
申请日期 |
2013.10.14 |
申请人 |
广西壮族自治区质量技术监督局珍珠产品质量监督检验站 |
发明人 |
何锦锋;曾明;廖斌;张清 |
分类号 |
G01B15/02(2006.01)I |
主分类号 |
G01B15/02(2006.01)I |
代理机构 |
北京远大卓悦知识产权代理事务所(普通合伙) 11369 |
代理人 |
张清;贺持缓 |
主权项 |
一种珍珠珠层厚度的无损检测方法,其特征在于,包括以下步骤:步骤一、利用X射线放射源逐一照射两个待测物体,得到两个初始图像,其中,所述两个待测物体包括标准球体和待测珍珠,其中,待测珍珠包括珠核以及环状的珠层,所述珠核位于所述珠层的中心;步骤二、依次从两个初始图像中识别出两个待测物体图像的边界点,具体过程为:(1)所述初始图像由多个规则排列的像素点构成,依据各像素点的灰度值对各像素点进行区分,如一个像素点的灰度值高于灰度阈值,则该像素点为构成待测物体图像的像素点,如一个像素点的灰度值低于灰度阈值,则该像素点为构成背景的像素点,(2)检测所有的像素点,在相邻两个像素点中,第一个像素点为构成待测物体图像的像素点,第二个像素点为构成背景的像素点时,以第一个像素点为待测物体图像的边界点,从而识别出待测物体图像的所有的边界点;步骤三、以标准球体为待测物体时,利用步骤二识别出的边界点拟合成一个圆,并以该圆的半径为标准球体图像的半径R0;步骤四、以待测珍珠为待测物体时,利用步骤二识别出的边界点拟合成三个同心圆,其中,以位于中心的一个圆的半径为珠核图像的半径R2,以位于最外侧的一个圆的半径为待测珍珠图像的半径R1;步骤五、所述待测珍珠的半径为r1=μR1,所述珠核的半径为r2=μR2,则所述珠层厚度为r=r1‑r2,其中,比例系数μ=r0/R0,r0为所述标准球体的半径。 |
地址 |
536000 广西壮族自治区北海市北海大道36号 |