发明名称 |
蚀刻工具工艺指标方法和装置 |
摘要 |
提供一种为蚀刻室提供工艺指标的方法。将具有无图案蚀刻层的晶圆提供到所述蚀刻室中。对所述无图案蚀刻层执行无图案蚀刻。在所述执行无图案蚀刻完成后,在所述无图案蚀刻层上方沉积无图案沉积层。测量所述无图案蚀刻层的厚度和所述无图案沉积层的厚度。使用测量到的厚度确定工艺指标。 |
申请公布号 |
CN103531428A |
申请公布日期 |
2014.01.22 |
申请号 |
CN201310482302.2 |
申请日期 |
2010.12.14 |
申请人 |
朗姆研究公司 |
发明人 |
克伦·雅各布斯·克瑙里克;乔治·卢克;尼古拉斯·韦布 |
分类号 |
H01J37/32(2006.01)I;H01L21/67(2006.01)I |
主分类号 |
H01J37/32(2006.01)I |
代理机构 |
上海胜康律师事务所 31263 |
代理人 |
李献忠 |
主权项 |
一种为蚀刻室提供工艺指标的方法,包含:a)将具有无图案蚀刻层的第一晶圆提供到所述蚀刻室中;b)对所述无图案蚀刻层执行无图案蚀刻;c)从所述蚀刻室除去所述第一晶圆;d)将第二晶圆提供到所述蚀刻室中;e)在所述蚀刻室中所述第二晶圆上方沉积无图案沉积层;f)在所述无图案蚀刻后测量所述第一晶圆的所述无图案蚀刻层的厚度;g)测量所述第二晶圆的所述无图案沉积层的厚度;以及h)使用所述测量的厚度确定工艺指标。 |
地址 |
美国加利福尼亚州 |