发明名称 |
漏泄同轴电缆的传输损耗或耦合损耗的计算方法 |
摘要 |
本发明涉及漏泄同轴电缆的传输损耗或耦合损耗的计算方法。本发明根据漏泄同轴电缆的传输损耗和耦合损耗在长度方向(如Z轴)上的值均具有收敛特性的规律,提出了针对传输损耗或耦合损耗的计算方法。在本发明中漏泄同轴电缆的传输损耗值和耦合损耗值计及了此有限长度内的开缝之间的耦合效应对传输损耗和耦合损耗的影响,利用了加速收敛方法来计算无限长的漏泄同轴电缆的虚拟的平均传输损耗和平均耦合损耗,得到某一长度漏泄同轴电缆的传输损耗和耦合损耗的最接近真实值。 |
申请公布号 |
CN102176219B |
申请公布日期 |
2014.01.22 |
申请号 |
CN201010611288.8 |
申请日期 |
2010.12.29 |
申请人 |
电子科技大学 |
发明人 |
喻志远;郭丽丽 |
分类号 |
G06F19/00(2011.01)I |
主分类号 |
G06F19/00(2011.01)I |
代理机构 |
电子科技大学专利中心 51203 |
代理人 |
周永宏 |
主权项 |
1.漏泄同轴电缆的传输损耗的计算方法,包括如下步骤:步骤1:选取一固定长度和固定开缝数的漏泄同轴电缆,进行电磁数值仿真,计算出此段漏泄同轴电缆的第一次平均传输损耗:<img file="FDA00003557471000011.GIF" wi="275" he="145" />步骤2:在步骤1的基础上增加M个开缝,计算出此段漏泄同轴电缆的第二次平均传输损耗:<img file="FDA00003557471000012.GIF" wi="350" he="158" />步骤3:重复步骤2,得到平均传输损耗的序列:<img file="FDA00003557471000013.GIF" wi="377" he="159" /><img file="FDA00003557471000018.GIF" wi="381" he="162" />……,<img file="FDA00003557471000015.GIF" wi="453" he="164" />式中,m表示仿真次数,m属于1到n;步骤4:应用序列的加速收敛技术,求出此收敛序列的极限<maths num="0001"><![CDATA[<math><mrow><munder><mi>Lim</mi><mrow><mi>m</mi><mo>→</mo><mo>∞</mo></mrow></munder><msub><msup><mi>L</mi><mi>m</mi></msup><mi>ta</mi></msub><mo>=</mo><mmultiscripts><munder><mi>Lim</mi><mrow><mi>n</mi><mo>→</mo><mo>∞</mo></mrow></munder></mmultiscripts><msub><mi>L</mi><mi>tan</mi></msub><mo>=</mo><msub><mi>L</mi><mi>ta</mi></msub><mo>;</mo></mrow></math>]]></maths>步骤5:计算选定长度H的传输损耗:L<sub>tH</sub>=n<sub>H</sub>×L<sub>ta</sub>;上述步骤的公式中,L<sub>t</sub>表示传输损耗,L<sub>ta</sub>表示平均传输损耗,L<sub>tan</sub>表示具有n个开缝的一段长度的LCX的单个开缝的平均传输损耗,S<sub>21</sub>表示微波散射参量,S<sub>21n</sub>表示具有n个开缝的一段长度的LCX的微波散射参量,M和N为自然数,n代表一段有限长的LCX中的开缝数,N为开缝数,N属于1到n之间的自然数,n<sub>H</sub>表示长度为H的漏泄同轴电缆对应的开缝数。 |
地址 |
611731 四川省成都市高新区(西区)西源大道2006号 |