发明名称 |
一种用于测量柔性片状材料表面电阻的装置 |
摘要 |
本发明公开了一种用于测量柔性片状材料表面电阻的装置,其包括平行电极探头、导线、质量块和电阻仪,所述的平行电极探头设置在待测材料上,所述的质量块设置在平行电极探头的上方;且所述的平行电极探头与电阻仪通过导线相连接、在待测材料表面形成回路。本发明提供的用于测量柔性片状材料表面电阻的装置,测量灵敏度高、测试方便、且可消减体积电阻和表面污染造成的测试影响,具有极强的实用价值,适于广泛推广应用。 |
申请公布号 |
CN103529300A |
申请公布日期 |
2014.01.22 |
申请号 |
CN201310503151.4 |
申请日期 |
2013.10.23 |
申请人 |
上海工程技术大学 |
发明人 |
黄时建;高琮 |
分类号 |
G01R27/02(2006.01)I |
主分类号 |
G01R27/02(2006.01)I |
代理机构 |
上海海颂知识产权代理事务所(普通合伙) 31258 |
代理人 |
何葆芳 |
主权项 |
一种用于测量柔性片状材料表面电阻的装置,其特征在于:包括平行电极探头、导线、质量块和电阻仪,所述的平行电极探头设置在待测材料上,所述的质量块设置在平行电极探头的上方;且所述的平行电极探头与电阻仪通过导线相连接、在待测材料表面形成回路。 |
地址 |
201620 上海市松江区龙腾路333号 |