发明名称 非破坏检查装置
摘要 本发明提供一种非破坏检查装置,能够高效地找到熔核部的中心位置,进行焊接部位的检查。该非破坏检查装置具有处理部(20),其向被测物(2)施加磁场从而产生磁通密度,在切断该磁场后,通过感应电动势检测部(17)测量从该被测物(2)的多个位置放出的磁通,计算出多个磁通的过渡变化的时间常数,并根据该时间常数的分布状态检测该被测物(2)的内部结构。处理部(20)使感应电动势检测部(17)在被测物(2)的规定的位置进行第一测量、使感应电动势检测部(17)在从被测物(2)的规定的位置旋转规定的角度的位置进行第二测量,基于利用第一测量检测出的内部结构和利用第二测量检测出的内部结构,推定形成在被测物(2)的内部的熔核部的中心位置以及/或者该熔核部的径。
申请公布号 CN103534551A 申请公布日期 2014.01.22
申请号 CN201280018161.2 申请日期 2012.04.05
申请人 本田技研工业株式会社;日本高压电气株式会社 发明人 窪田利彦;川锅修;木村孝;奥田淳
分类号 G01B7/12(2006.01)I;B23K31/00(2006.01)I;G01B7/00(2006.01)I;G01N27/72(2006.01)I;B23K11/11(2006.01)I 主分类号 G01B7/12(2006.01)I
代理机构 北京市柳沈律师事务所 11105 代理人 陈蕴辉
主权项 一种非破坏检查装置,其特征在于,具有:检测处理部,其向被测物施加磁场从而产生磁通密度,在切断该磁场后,通过磁通检测元件测量从该被测物的多个位置放出的磁通,计算出多个磁通的过渡变化的时间常数,并根据该时间常数的分布状态检测被测物的内部结构,所述检测处理部,使所述磁通检测元件在所述被测物的第一位置进行第一测量、在第二位置进行第二测量,至少基于利用所述第一测量检测出的内部结构和利用所述第二测量检测出的内部结构,推定形成在所述被测物内部的熔核部的中心位置以及/或者该熔核部的径。
地址 日本东京都