一种优化的K-edge成像方法

摘要

本发明公开了一种优化的K-edge成像方法，本方法在K-edge前后两个X射线能量段进行成像以提高已知材料成像对比度。K-edge前后两个X射线能量段的宽度决定了两个能谱CT图像的对比度和噪声水平，针对如何设置K-edge前后两个X射线能量段的宽度问题，本发明引入信号差异噪声比（Signal Difference to Noise Ratio,SDNR）作为最优化准则，在这个最优化准则的约束下，选取了最优的X射线能量段的宽度，然后进行K-edge成像。这种成像方法，能够在保证两个重建能谱CT图像感兴趣区域噪声最小化的同时，可以获得最大的对比度差异，从而达到提高已知材料成像对比度的目的。可以用于生物医学CT成像领域。

主权项

一种优化的K‑edge成像方法，其特征在于:在K‑edge两侧取两个X射线能量段进行K‑edge成像，其中所述两个X射线能量段宽度相等，且利用信号差异噪声比作为最优化约束准则，获取使信号差异噪声比最大的最佳的X射线能量段宽度w，以此进行CT成像。