发明名称 | 三维测量系统 | ||
摘要 | 本发明揭露一种三维测量系统,包含测量平台、投影模块、取像模块以及控制单元。测量平台用以承载一待测物体。投影模块包含发光单元、遮光转盘、光栅单元以及光反射环型结构。发光单元大致位于该测量平台的一垂直轴线上并用以产生一光线。遮光转盘设置于该发光单元与该待测物体之间,该遮光转盘上开设有一孔洞,随着该遮光转盘转动,借此通过孔洞的光线依时序形成多个区段光线。光栅单元用以将通过该孔洞各区段光线转换为多个条纹光线。光反射环型结构用以将该些条纹光线分别反射至该待测物体上。 | ||
申请公布号 | CN103528541A | 申请公布日期 | 2014.01.22 |
申请号 | CN201210229984.1 | 申请日期 | 2012.07.04 |
申请人 | 德律科技股份有限公司 | 发明人 | 余良彬;林栋;蔡知典 |
分类号 | G01B11/25(2006.01)I | 主分类号 | G01B11/25(2006.01)I |
代理机构 | 北京律诚同业知识产权代理有限公司 11006 | 代理人 | 徐金国 |
主权项 | 一种三维测量系统,其特征在于,包含:一测量平台,用以承载一待测物体;一投影模块,包含;一发光单元,用以产生一光线,该发光单元设置于该待测物体上方且位于该测量平台的一垂直轴线上;一遮光转盘,设置于该发光单元与该待测物体之间,且位于该垂直轴线上,该遮光转盘上开设有一孔洞,随着该遮光转盘转动该孔洞依时序位于相异的转动位置,通过该孔洞的该光线借此依时序形成多个区段光线;一光栅单元,位于该遮光转盘与该待测物体之间,用以将通过该孔洞各区段光线转换为多个条纹光线;以及一光反射环型结构,设置于该光栅单元与该待测物体之间,且环绕于该垂直轴线四周,用以将该些条纹光线分别反射至该待测物体上;一取像模块,用以撷取该待测物体于该些条纹光线下的多个条纹影像;以及一控制单元,用以控制该投影模块以及该取像模块,并经由该些条纹影像测量该待测物体的三维形状。 | ||
地址 | 中国台湾台北市士林区徳行西路45号7楼 |