发明名称 |
用以测试受测装置之方法与设备 |
摘要 |
揭示一种用以测试一受测装置之构想,该构想包含从专用来利用至少一个硬体资源而与该受测装置之一输入或输出接脚通讯之至少一个测试通道积体电路,接收描述该至少一个硬体资源之期望运算之至少一个逻辑控制指令,及利用一资源控制装置来将该至少一个逻辑控制指令转换成用于该至少一个硬体资源之至少一个专用控制指令,其中该至少一个专用控制指令系经调整而适用于该至少一个硬体资源之实体实现。 |
申请公布号 |
TWI424181 |
申请公布日期 |
2014.01.21 |
申请号 |
TW100100943 |
申请日期 |
2011.01.11 |
申请人 |
爱德万测试(新加坡)私人有限公司 新加坡 |
发明人 |
高洛夫 吉尔;亨凯尔 汤玛斯;莱森 罗纳度;科诺屈 尤瑞奇 |
分类号 |
G01R31/319 |
主分类号 |
G01R31/319 |
代理机构 |
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代理人 |
恽轶群 台北市松山区南京东路3段248号7楼;陈文郎 台北市松山区南京东路3段248号7楼 |
主权项 |
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地址 |
新加坡 |