发明名称 半导体发光元件的制造方法
摘要 本发明的半导体发光元件的制造方法,系具有半导体层形成制程、接合制程、沟形成制程、光照射制程、剥离制程以及切断制程。在半导体层形成制程中,形成多层氮化物半导体层于具有透光性的第一晶圆的顶面。在接合制程中,于多层氮化物半导体层的顶面,接合第二晶圆。在沟形成制程中,从第一晶圆的底面,形成深度至少到达多层氮化物半导体层之沟。在光照射制程中,隔着第一晶圆,对多层氮化物半导体层的底面,照射第一光。藉此,多层氮化物半导体层与第一晶圆之间的接合力会被降低。在剥离制程中,从多层氮化物半导体层分离第一晶圆。在切断制程中,沿着沟切断第二晶圆,藉此,分割为复数个半导体发光元件。
申请公布号 TWI424588 申请公布日期 2014.01.21
申请号 TW098136551 申请日期 2009.10.28
申请人 松下电器产业股份有限公司 日本 发明人 山江和幸;福岛博司;安田正治;岩桥友也;龟井英德;前田修作
分类号 H01L33/00 主分类号 H01L33/00
代理机构 代理人 蔡坤财 台北市中山区松江路148号11楼;李世章 台北市中山区松江路148号11楼
主权项
地址 日本