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发明名称
改良之电子元件处理机测试盘
摘要
本文描述一种改良之电子元件处理机及关联的改良测试盘。该测试盘上的一导件系用以相交于测试孔洞以消除元件装载框架与孔洞之对准误差,以确保元件轻易插入至该等测试孔洞中。
申请公布号
TWI424169
申请公布日期
2014.01.21
申请号
TW097143542
申请日期
2008.11.11
申请人
ESI电子科技股份有限公司 美国
发明人
杰洛德F 鲍
分类号
G01R31/26;B07C5/344;B07C5/36
主分类号
G01R31/26
代理机构
代理人
陈长文 台北市松山区敦化北路201号7楼
主权项
地址
美国
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