| 摘要 |
L'invention concerne un procédé de caractérisation d'un objet (300) comprenant au moins localement un plan de symétrie (P1), le procédé comprenant au moins une observation d'ultrasons transmis par ledit objet, chaque observation étant effectuée sur un axe (d) perpendiculaire au plan de symétrie (P1), chaque observation faisant suite à une émission d'ultrasons générés selon, respectivement ledit axe (d) et rencontrant l'objet (300) selon ledit axe (d) avec une incidence (q1) différente de la normale, les ultrasons rencontrant l'objet (300) en sorte de suivre un trajet symétrique par rapport au plan de symétrie (P1). |
