| 主权项 |
1﹒用以测试感测器一信号处理装置之一棱方法,该装置处理感测器信号,使用测试信号取代感测器信号以进行测试,该方法之特点为包括步骤:产生一动态参考信号;由施加一特定之动态补偿于动态参考信号中而产生了测试信号,该动态补偿由处理装置之非线性转移函数之倒数决定;移去处理装置中之感测器信号,并供应测试信号以取代感测器信号;及比较由处理装置所产生之经补偿之信号及动态参考信号,从而该方法施加由一预定之非线性转移函数所决定之动态补偿于感测器信号,以产生经补偿之信号,并产生一数位输出信号,当经补位之信号之幅度小于一设定点値时,该输出信号具有第一位准,及当该幅度等于或超过设定点値时,具有一第二位准。2﹒根据请求专利部份第1项所述之方法,其中,用以产生动态参考信号之步骤包括产生一斜坡信号。3﹒根据请求专利部份第2项所述之方法,包括监视该输出信号,当该参考信号到达与经补偿之信号之信号之该设定点値相当之一値时,该信号自该第二位准转移至第一位准。4﹒根据请求专利部份第2项所述之方法,其中,该信号处理装置包含一微处理器,用以在一第一处理讯道中以数位处理感测器信号,以产生经补偿之信号及该输出信号;其中,该动态参考信号及测试信号成数位形态产生于与第一微处理器相独立之一第二微处理器中,并变换为类比信号,且其中,该类比测试信号供应至第一微处理器,取代感测器信号,俾在第一处理讯道中处理,以产生经补偿之数位信号;该方法包括步骤:供应该类比参考信号至第一微处理器;处理该信号,以产生一再生数位参考信号于第一微处理器之第二处理讯道中;及以多工方式输送第一微处理器之第一处理讯道中所产生之经补偿之数位信号及来自第二处理讯道之再生数位参考信号至第二微处理器;且其中,该比较步骤包括在第二微处理器中比较经补偿之数位信号及自第一微处理器收回之再生数位参考信号。5﹒根据请求专利部份第4项所述之方法,其中,该项在第二微处理器中产生动态参考信号之步骤包括以数位方式重复产生一斜坡信号,并变换该信号为类比信号;其中,连续供应该类比斜坡信号至第一微处理器;其中,在第一微处理器之第二讯道中处理该斜坡信号之步骤包括产生一数位参考输出信号,当斜坡信号低于一预定値时,该输出信号具有一第一信号位准,及当斜坡信号等于或超过预定値时,该输出信号具有一第二信号位准;并包括步骤:供应数位参考输出信号至第二微处理器,并在第二微处理器中监视该数位参考输出信号,当斜坡信号到达一选定之测试値时,该信号在一预设定之时间内改变信号位准。6﹒供信号处理器用之一种测试及保护装置,该处理器具有一已知之轴移函,并接收感测信号,并在测试期间出施加一整备测试信号取代正常之感测器信号而加以测试,该测试装量之特点为具有:一测试单位,具有装置,用以产生一动态参考信号,并施加具有非线性转移函数之特性之特定动态补位于该参考信号,以产生一测试信号,该非线性转移函数为该信号处理装置之转移函数之倒数;供应装置,用以供应测试信号至该信号处理装置,以取代感测器信号;及送回装置,将信号处理器反应测试信号而产生之经补位之信号送回至测试单位,该测试单位含有装置,用以比较所查生之经补偿之信号及该参考信号。7﹒根据请求专利部份第6项所述之方法,其中,该测试单位产生一斜坡参考信号;且其中,该信号比理器产生一数位输出信号,当反应斜坡信号而产生之经补偿之信号具有一幅度低于一预定値时,该输出信号具有一第一位准,否则,具有一第二位准;及该装置包含一即时回应线,用以发送数位输出信号至测试单位,该测试单位含有装置,用以测定在斜坡信号到达一预定値之预选定时间内该输出信号改变位准。8﹒根据请求专利部份第6项所述之测试及保护装置,其中,该测试单位包含:一第一信号处理器,该感测器信号加于该处理器,该处理器并含有一第一微处理器,该处理器由程式控制,俾在一第一处理讯道中变换类比感测器信号为数位感测器信号;该测试单占包含一第二微处理器,由程式控制,以产生该动态参考信号及该测试信号;变换装置,用以变换在第二微处理器中所产生之目测试信号及动态参考信号为类比信号;供应装置,用以供应类比测试信号至第一微处理器,以取感测器信号,俾在第一处理讯道中产生一经补偿之数位测试信号;并用以供应领比参考信号至第一微处理器,俾在一第二处理讯道中产生一再生之数位参考信号;及一多工器,以多工方式输送经补偿之数位测试信号及数位再生参考信号至测试单位之第二微处理器,该第二微处理器由程式控制,以比较经补偿之数位测试信号及数位再生参考信号,并当二者相差超过预定之限度时,产生一警告信号。图示简单说明图1为应用本发明之核子反应器之多讯道表决逻辑保护系统之方块图形态之概要图;图2为图1之多讯道保护系统之一讯道组之一部份之方块图形态之概要图;及图3为一功能图,显示本发明构形之图2讯道组之作用。 |
