发明名称 Waferjustiersystem mit optischer Kohärenz-Tomographie
摘要 Es wird ein System zum Durchführen einer Justierung von zwei Wafern offenbart. Das System weist ein optisches Kohärenz-Tomographie-System und ein Waferjustiersystem auf. Das Waferjustiersystem ist so konfiguriert und angeordnet, dass es die relative Position eines ersten Wafers und eines zweiten Wafers steuert. Das optische Kohärenz-Tomographie-System ist so konfiguriert und angeordnet, dass es Koordinatendaten für eine Vielzahl von Justiermarkierungen auf dem ersten Wafer und auf dem zweiten Wafer berechnet und jene Koordinatendaten zu dem Waferjustiersystem sendet.
申请公布号 DE112012001136(T5) 申请公布日期 2014.01.16
申请号 DE20121101136T 申请日期 2012.02.29
申请人 INTERNATIONAL BUSINESS MACHINES CORPORATION 发明人 XIN, YONGCHUN;OUYANG, XU;SONG, YUNSHENG;TING, TSO-HUI
分类号 H01L21/68;G01B11/00;H01L21/02 主分类号 H01L21/68
代理机构 代理人
主权项
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