发明名称 热继电器双金属片检测装置
摘要 本发明提供一种热继电器双金属片检测装置,用于检测热继电器双金属片的位置状态,其包括:检测模块,用于检测热继电器双金属片位置状态;显示装置,该显示装置与所述检测模块电性连接,用于显示表征所述热继电器双金属片位置状态的计量值;升降机构,包括基台以及为基台提供上升动力的升降泵,检测模块设置于所述基台上;其中,基台配合有滑动套杆,该滑动套杆上套设有多级弹簧,基台通过自身重力提供向下运动的动力。通过设置与基台配合的滑动套杆以及套合在滑动套杆上的多级弹簧,基台通过自身重力提供向下运动的动力,并通过多级弹簧起到缓冲的作用,减小基台向下运动时的冲量,并且保证检测的可靠性。
申请公布号 CN103512522A 申请公布日期 2014.01.15
申请号 CN201210203983.X 申请日期 2012.06.20
申请人 苏州工业园区高登威科技有限公司 发明人 李佳
分类号 G01B21/00(2006.01)I 主分类号 G01B21/00(2006.01)I
代理机构 代理人
主权项 一种热继电器双金属片检测装置,用于检测热继电器双金属片的位置状态,其特征在于,所述热继电器双金属片检测装置包括:检测模块,所述检测模块用于检测热继电器双金属片位置状态;显示装置,所述显示装置与所述检测模块电性连接,所述显示装置用于显示表征所述热继电器双金属片位置状态的计量值;升降机构,所述升降机构包括基台以及为所述基台提供上升动力的升降泵,所述检测模块设置于所述基台上;其中,所述基台配合有滑动套杆,所述滑动套杆上套设有多级弹簧,所述基台通过自身重力提供向下运动的动力。
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