存储器及其测试方法

摘要

本发明公开了一种存储器，所述存储器包括：存储体，所述存储体包括多个存储器单元；命令译码器，所述命令译码器被配置成与时钟信号同步地操作、并且响应于多个命令信号而将包括激活命令、写入命令、校准命令、以及MRS命令的多个命令中的至少一个激活；测试译码器，所述测试译码器被配置成响应于多个地址信号和MRS命令而将存储器设定成测试模式；以及测试控制器，所述测试控制器被配置成当存储器被设定成测试模式时在基于通过对具有比所述时钟信号更高频率的测试时钟信号计数获得的计数信息确定的时间点将用于测试操作所述存储体的至少一个内部测试命令激活。

主权项

一种存储器，包括：存储体，所述存储体包括多个存储器单元；命令译码器，所述命令译码器被配置成：与时钟信号同步地操作，并且响应于多个命令信号而将包括激活命令、写入命令、校准命令、以及MRS命令的多个命令中的至少一个激活；测试译码器，所述测试译码器被配置成响应于多个地址信号和所述MRS命令而将所述存储器设定成测试模式；以及测试控制器，所述测试控制器被配置成：当所述存储器被设定成所述测试模式时，在基于计数信息而确定的时间点将用于测试操作所述存储体的至少一个内部测试命令激活，所述计数信息通过对具有比所述时钟信号高的频率的测试时钟信号计数而获得。