发明名称 一种存储器放电电路
摘要 本申请提供了一种存储器放电电路,以解决传统的放电电路中正负电压放电速度不能控制的问题。所述电路包括:PMOS管组成的P管电流镜;NMOS管组成的N管电流镜;负电压放电支路和正电压放电支路;通过控制接入到电路中的PMOS管的数量,控制正负电压放电电流的大小,在同一时间段内,使正负电压放电电流的速度相等。在整个放电过程中控制放电电流的速度,减轻了放电速度过快对存储器寿命的影响,延缓了存储器的性能衰减;并且通过调整开关闭合或断开的状态,分时间段进行放电,提高了放电的平稳性。
申请公布号 CN103514937A 申请公布日期 2014.01.15
申请号 CN201210207782.7 申请日期 2012.06.18
申请人 北京兆易创新科技股份有限公司 发明人 刘铭
分类号 G11C7/12(2006.01)I 主分类号 G11C7/12(2006.01)I
代理机构 北京润泽恒知识产权代理有限公司 11319 代理人 苏培华
主权项 一种存储器放电电路,其特征在于,包括:PMOS管组成的P管电流镜;NMOS管组成的N管电流镜;负电压放电支路和正电压放电支路;其中,P管电流镜中的第一PMOS管的栅极接内部电流源Idisc,源极接内部电压VDD,漏极接负电压放电支路,用于复制放电电流;P管电流镜中的第二PMOS管的栅极接内部电流源Idisc,源极接内部电压VDD,漏极接N管电流镜,用于复制放电电流;除所述第一PMOS管和所述第二PMOS管之外,所述P管电流镜还包括n个PMOS管,所述n个PMOS管的源极分别与n个开关连接,栅极和漏极接内部电流源Idisc,n个PMOS管之间并联,用于控制放电电流的大小,n≥1;所述n个开关分别用于控制所述n个PMOS管是否接入电路;N管电流镜中的第一NMOS管的漏极和栅极与第二NMOS管的栅极接第二PMOS管的漏极,第一NMOS管的源极接地;N管电流镜中的第二NMOS管的漏极接正电压放电支路,源极接地;当m个开关闭合时,m个PMOS管接入电路,负电压放电支路的放电电流为Idisc/m,正电压放电支路的放电电流为Idisc/m,n≥1,n≥m≥1,n和m为正整数;通过改变开关闭合或断开的状态,控制PMOS管接入电路的数量,调整放电的时间段。
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