发明名称 晶片封装体及其形成方法、半导体结构的形成方法
摘要 本发明提供一种晶片封装体及其形成方法、半导体结构的形成方法,该晶片封装体包括:一晶片,包括:一半导体基底,具有一第一表面;一元件区,形成于半导体基底之中;以及多个微透镜,设置于第一表面上,且位于元件区上;一覆盖基板,设置于晶片上,覆盖基板系为一透光基板;一间隔层,设置于晶片与覆盖基板之间,其中间隔层、晶片、及覆盖基板共同于元件区上围出一空腔;以及至少一主透镜,设置于覆盖基板上,且位于空腔中,主透镜的宽度大于各微透镜的宽度。本发明所提供的晶片封装技术可缩减晶片封装体的尺寸、可大量生产晶片封装体、可确保晶片封装体的品质、及/或可降低制程成本与时间。
申请公布号 CN103515334A 申请公布日期 2014.01.15
申请号 CN201310247527.X 申请日期 2013.06.20
申请人 精材科技股份有限公司 发明人 林柏伸;刘沧宇;何彦仕;何志伟;陈世锦
分类号 H01L23/31(2006.01)I;H01L21/56(2006.01)I;H01L23/488(2006.01)I;H01L21/60(2006.01)I;H01L25/00(2006.01)I 主分类号 H01L23/31(2006.01)I
代理机构 北京林达刘知识产权代理事务所(普通合伙) 11277 代理人 刘新宇
主权项 一种晶片封装体,其特征在于,包括:一晶片,包括:一半导体基底,具有一第一表面及一第二表面;一元件区,形成于该半导体基底之中;一介电层,设置于该第一表面上;以及一导电垫结构,设置于该介电层之中,且电性连接该元件区;一覆盖基板,设置于该晶片上;以及一间隔层,设置于该晶片与该覆盖基板之间,其中该间隔层、该晶片、及该覆盖基板共同于该元件区上围出一空腔,且该间隔层直接接触该晶片,而无任何粘着胶设置于该晶片与该间隔层之间。
地址 中国台湾桃园县中坜市中坜工业区吉林路23号9F