发明名称 |
表面等离子体谐振图像检测芯片、系统及其使用方法 |
摘要 |
本发明公开了一种表面等离子体谐振图像检测芯片、系统及其使用方法。其中,表面等离子体谐振图像检测芯片包括:透明基底;敏感膜阵列,包含至少两个分离的敏感膜单元,至少两分离的敏感膜单元中的每一敏感膜单元包括:金属膜和敏感材料;检测池阵列,为具有厚度的材料,包含贯穿检测池阵列的、与至少两个分离的敏感膜单元分别对应的至少两个分离的检测池单元,其中:检测池阵列上除至少两个分离的检测池单元之外的区域与透明基底紧密结合,形成密封;至少两个分离的检测池单元中的每一检测池单元,其面积大于或等于对应敏感膜单元的面积,从而将该敏感膜单元围设于其底部。本发明无需外接的流通系统,大大降低了仪器的制造成本。 |
申请公布号 |
CN103512861A |
申请公布日期 |
2014.01.15 |
申请号 |
CN201210210534.8 |
申请日期 |
2012.06.20 |
申请人 |
中国科学院电子学研究所 |
发明人 |
蔡浩原;崔大付;李辉;陈兴;张璐璐;孙建海;任艳飞 |
分类号 |
G01N21/41(2006.01)I;G01N21/55(2014.01)I |
主分类号 |
G01N21/41(2006.01)I |
代理机构 |
中科专利商标代理有限责任公司 11021 |
代理人 |
宋焰琴 |
主权项 |
一种表面等离子体谐振图像检测芯片,包括:透明基底;敏感膜阵列,包含至少两个分离的敏感膜单元,所述至少两分离的敏感膜单元中的每一敏感膜单元包括:金属膜,沉积在所述透明基底上;敏感材料,通过物理吸附或者化学键共价连接的方式结合到所述金属膜上;检测池阵列,为具有厚度的材料,包含贯穿检测池阵列的、与所述至少两个分离的敏感膜单元分别对应的至少两个分离的检测池单元,其中:检测池阵列上除所述至少两个分离的检测池单元之外的区域与所述透明基底紧密结合,形成密封;所述至少两个分离的检测池单元中的每一检测池单元,其面积大于或等于对应敏感膜单元的面积,从而将该敏感膜单元围设于其底部。 |
地址 |
100080 北京市海淀区北四环西路19号 |