发明名称 对位校正检知装置
摘要 本创作系一种对位校正检知装置,其包含有一具有控制单元的机台,该机台上设有承载玻璃基板的载台、检测台,以及该机台上设有调整检测台的对位调整装置,以及一第一移动装置及一第二移动装置,该第二移动装置上设有复数吸附定位单元,该些复数吸附定位单元可以依序将检测台上对位检测完毕的玻璃基板吸起,进而可一次运送多片玻璃基板至印刷作业区,进而提升产能运用效能。
申请公布号 TWM470262 申请公布日期 2014.01.11
申请号 TW102218767 申请日期 2013.10.08
申请人 瀚轩股份有限公司 高雄市路竹区路科五路82号3楼 发明人 桑友乐
分类号 G01R19/00 主分类号 G01R19/00
代理机构 代理人 桂齐恒 台北市中山区长安东路2段112号9楼;林景郁 台北市中山区长安东路2段112号9楼
主权项
地址 高雄市路竹区路科五路82号3楼