发明名称 半导体晶圆之保护带切断方法及其装置
摘要 使切割刀刃沿着半导体晶圆的外周进行相对移动,并且藉连同切割刀刃一起对半导体晶圆进行相对移动的集尘构件,将发生在因切割刀刃所致之带切断部位而附着在保护带T之上面的尘埃扫集,在结束带切断后,藉抽吸喷嘴,将扫集在预定部位的尘埃予以抽吸去除。
申请公布号 TWI423311 申请公布日期 2014.01.11
申请号 TW097145588 申请日期 2008.11.26
申请人 日东电工股份有限公司 日本 发明人 石井直树;山本雅之
分类号 H01L21/30;B26D7/18 主分类号 H01L21/30
代理机构 代理人 何金涂 台北市大安区敦化南路2段77号8楼;丁国隆 台北市大安区敦化南路2段77号8楼
主权项
地址 日本