发明名称 安排光学模组于量测装置中之方法及量测装置
摘要 一种安排光学模组(12)于量测装置(10)中之方法,包含以下步骤:提供辐照系统(20)、参考组件(30)、以及侦测元件(32)于量测装置(10),辐照系统(20)用于利用电磁辐射(24)辐照光学模组(12),侦测元件(32)界定侦测表面(33),侦测元件(32)相关于参考组件(30)设置于界定位置;设置光学模组(12)于量测装置(10)中,而使辐照系统(20)发射的辐射通过光学模组(12),并照射到侦测表面(33,54)做为出射束(31);量测出射束(31)相关于侦测表面(33,54)之位置;调整光学模组(12)在量测装置(10)内之位置,而使出射束(31)相关于侦测表面(33,54)之位置对应想要位置;以及建立位置参数,位置参数系界定光学模组(12)相关于参考组件(30)之位置。
申请公布号 TWI422867 申请公布日期 2014.01.11
申请号 TW099102220 申请日期 2010.01.27
申请人 卡尔蔡司SMT有限公司 德国 发明人 拉斯 马汀;谬勒 乌瑞奇;米尔克 瓦戴玛
分类号 G02B27/62;G03F7/20 主分类号 G02B27/62
代理机构 代理人 李宗德 台北市大安区敦化南路2段218号5楼A区
主权项
地址 德国