电路板之测试治具结构改良

摘要

本发明系提供一种电路板之测试治具结构改良，其包含有相互导通之测试机台面、转接单元、万用密度板及针板单元；且该转接单元系可以导针、导线或电路板之型态与测试机台面与万用密度板连接。藉此，本发明之电路板之测试治具结构改良，可利用转接单元作为连接介面，而直接导通测试机台面、万用密度板及针板单元，以大幅减少测试机台面之钻孔制程以及孔中所搭配之下弹性探针，而达到结构简单、易于组装及降低成本之功效。