| 发明名称 |
Method for testing of integrated semiconductor circuits soldered in circuit boards and usage of a transistor tester for this method |
| 摘要 |
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| 申请公布号 |
EP0507168(B1) |
申请公布日期 |
1997.01.15 |
| 申请号 |
EP19920104967 |
申请日期 |
1992.03.23 |
| 申请人 |
ITA INGENIEURBUERO FUER TESTAUFGABEN GMBH |
发明人 |
BUKS, MANFRED |
| 分类号 |
G01R31/04;G01R31/28;G01R31/316;(IPC1-7):G01R31/28 |
主分类号 |
G01R31/04 |
| 代理机构 |
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代理人 |
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| 主权项 |
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| 地址 |
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