发明名称 |
Vorrichtung und Verfahren für einen MOS-Transistor |
摘要 |
MOS-Transistor, der ein Substrat mit einer ersten Leitfähigkeit, einen ersten Bereich mit der ersten Leitfähigkeit, der über dem Substrat ausgebildet ist, einen zweiten Bereich mit der ersten Leitfähigkeit, der in dem ersten Bereich ausgebildet ist, einen ersten Drain/Source-Bereich mit einer zweiten Leitfähigkeit, der in dem zweiten Bereich ausgebildet ist, einen zweiten Drain/Source-Bereich mit der zweiten Leitfähigkeit und einen Aufbaukontaktbereich mit der ersten Leitfähigkeit aufweist, wobei der Aufbaukontaktbereich und der erste Drain/Source-Bereich in einer Draufsicht abwechselnd ausgebildet sind. |
申请公布号 |
DE102012108142(A1) |
申请公布日期 |
2014.01.09 |
申请号 |
DE201210108142 |
申请日期 |
2012.09.03 |
申请人 |
TAIWAN SEMICONDUCTOR MANUFACTURING CO., LTD. |
发明人 |
CHOU, HSUEH-LIANG;NG, CHUN-WAI;SU, PO-CHIH;LIU, RUEY-HSIN |
分类号 |
H01L29/78;H01L21/761;H01L27/088;H01L29/06 |
主分类号 |
H01L29/78 |
代理机构 |
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代理人 |
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主权项 |
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地址 |
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