| 发明名称 | 校准集成电路内的装置性能 | ||
| 摘要 | 一种用于在集成电路内实施的多指装置（105）可包括：第一指形物，其经配置以保持活跃；第二指形物，其在所述第一指形物活跃的同时最初停用；以及指形物激活电路（125），其经配置以响应于确定所述多指装置（105）的降级量度达到降级阈值而选择性地激活所述多指装置（105）的所述第二指形物。 | ||
| 申请公布号 | CN103503129A | 申请公布日期 | 2014.01.08 |
| 申请号 | CN201280022098.X | 申请日期 | 2012.02.21 |
| 申请人 | 吉林克斯公司 | 发明人 | 薛密·沙道奇;安在境 |
| 分类号 | H01L21/8234(2006.01)I;H01L21/66(2006.01)I;G01R31/317(2006.01)I | 主分类号 | H01L21/8234(2006.01)I |
| 代理机构 | 北京银龙知识产权代理有限公司 11243 | 代理人 | 许静;黄灿 |
| 主权项 | 一种用于在集成电路内实施的多指装置，所述多指装置包含：第一指形物，其经配置以保持活跃；第二指形物，其在所述第一指形物活跃的同时最初停用；以及指形物激活电路，其经配置以响应于确定所述多指装置的降级量度达到降级阈值，而选择性地激活所述多指装置的所述第二指形物。 | ||
| 地址 | 美国加利福尼亚州 | ||