发明名称 芯片式微陀螺的减振测试装置
摘要 本发明公开了一种芯片式微陀螺的减振测试装置,包括胶盒、胶盖、减振胶、质量块和基板,其中胶盒通过其底部设置的安装孔固定于振动台上,胶盒腔体内壁设有环绕内壁的第一凸台,质量块外壁中间位置设有环绕外壁的第二凸台,减振胶上设有与第二凸台相配合的装配凹槽,质量块和减振胶装配后置于胶盒腔体内的第一凸台上,胶盖中间开孔且与胶盒配套设置,质量块从胶盖中间孔中穿过,胶盖内表面沿开孔边沿设有第三凸台且第三凸台压置于减振胶上,质量块的顶部固定设置基板,基板的上表面设有两个第四凸块用于固定芯片式微陀螺。本发明芯片式微陀螺的减振测试装置结构简单、安装方便、频率可调,能够满足批量生产。
申请公布号 CN103499353A 申请公布日期 2014.01.08
申请号 CN201310397454.2 申请日期 2013.09.04
申请人 南京理工大学 发明人 施芹;裘安萍;夏国明;苏岩;丁衡高
分类号 G01C25/00(2006.01)I;G01M7/02(2006.01)I 主分类号 G01C25/00(2006.01)I
代理机构 南京理工大学专利中心 32203 代理人 朱显国
主权项 一种芯片式微陀螺的减振测试装置,其特征在于:包括胶盒(1)、胶盖(2)、减振胶(3)、质量块(4)和基板(5),其中胶盒1通过其底部设置的安装孔(12)固定于振动台上,胶盒(1)腔体内壁设有环绕内壁的第一凸台(11),质量块(4)外壁中间位置设有环绕外壁的第二凸台(41),减振胶(3)上设有与第二凸台(41)相配合的装配凹槽,质量块(4)和减振胶(3)装配后置于胶盒(1)腔体内的第一凸台(11)上,胶盖(2)中间开孔且与胶盒(1)配套设置,质量块(4)从胶盖(2)中间孔中穿过,胶盖(2)内表面沿开孔边沿设有第三凸台(21)且第三凸台(21)压置于减振胶(3)上,质量块(4)的顶部固定设置基板(5),基板(5)的上表面设有两个第四凸块(51)用于固定芯片式微陀螺。
地址 210094 江苏省南京市孝陵卫200号