发明名称 具有静电放电保护电路之半导体积体电路
摘要 一种具有对抗静电放电之保护电路的半导体积体电路;一定位元件,系与金属绝缘半导体电晶体(metal insulatorsemiconductor,MIS transistor)相连,以预防充电装置模式之崩溃。一种横向双极电晶体,MOS电晶体或MIS电晶体,其闸极系由绝缘薄膜组成,且此绝缘薄膜比转移闸之绝缘薄膜厚,可作为定位元件。
申请公布号 TW399315 申请公布日期 2000.07.21
申请号 TW087115118 申请日期 1998.09.10
申请人 电气股份有限公司 发明人 藤井威男;成田薰;堀口洋子
分类号 H01L23/60 主分类号 H01L23/60
代理机构 代理人 洪澄文 台北巿信义路四段二七九号三楼
主权项 1.一种半导体积体电路,包括:一输入接点;一内部电路;一转移闸,连接在上述输入接点与内部电路之间;一定位元件,与该转移闸相连以保护该转移闸。2.如申请专利范围第1项所述之半导体积体电路,其中:该转移闸系为MIS电晶体,且其源极或汲极与上述内部电路相连;及此定位元件系连接于前MIS电晶体之闸极与该源极或汲极之间。3.如申请专利范围第2项所述之半导体积体电路,其中前述MIS电晶体之闸极系与一内部电压源或外部电压源相连。4.如申请专利范围第2项所述之半导体积体电路,其中该定位元件为横向双极电晶体。5.如申请专利范围第2项所述之半导体积体电路,其中该定位元件为另一个MIS电晶体,而该MIS电晶体之闸极包括一绝缘薄膜,用以当作该转移闸;且其绝缘薄膜较前述MIS电晶体之绝缘薄膜要厚。6.如申请专利范围第5项所述之半导体积体电路,其中:该转移闸之闸极,系与该定位元件之源极或汲极相连;该定位元件之闸极,系与该定位元件之源极或汲极连接;及该定位元件之源极或汲极,系与前述转移闸之源极或汲极相连。7.如申请专利范围第1项所述之半导体积体电路,其中该定位元件系邻近前述之转移闸。8.一种半导体积体电路,包括:一输入接点;一MIS电晶体,其闸极系与电源供应器或地相连,且其中此MIS电晶体之源极或汲极系连接于上述输入接点;及一定位元件,系连接于此闸极与此源极或汲极之间。9.如申请专利范围第8项所述之半导体积体电路,其中该定位元件系包括一横向双极电晶体。10.如申请专利范围第8项所述之半导体积体电路,其中该定位元件包括另一个MIS电晶体,而该MIS电晶体之闸极包括一绝缘薄膜,用以当作该转移闸;且其绝缘薄膜较前述MIS电晶体之绝缘薄膜要厚。11.一种半导体积体电路,包括:一输入接点;一MIS电晶体,其闸极系与上述输入接点相连,且其中此MIS电晶体之源极或汲极系与电源供应器或地相连;及一定位元件,系连接于此闸极与源极或汲极之间,且该定位元件包括一横向双极电晶体,与此MIS电晶体相邻。12.一种半导体积体电路,包括:一输入接点;一MIS电晶体,其闸极系与上述输入接点相连,且其中此MIS电晶体之源极或汲极系与电源供应器或地相连;及一定位元件,系连接于此闸极与此源极或汲极之间,且该定位元件包括另一个MIS电晶体,其闸极包括一绝缘薄膜,较前述MIS电晶体之绝缘薄膜要厚。图示简单说明:第一图为本发明之半导体积体电路的电路图。第二图为本发明之半导体积体电路的其它电路图。
地址 日本