发明名称 绝缘体上硅芯片上的独立电压控制的硅区域
摘要 一种半导体芯片(100)具有独立电压控制的硅区域(110),该独立电压控制的硅区域是用于控制eDRAM沟槽电容器(140)的电容值和叠置在独立电压控制的硅区域(110)上的场效晶体管(130)的阈值电压的电路元件。独立电压控制的硅区域(110)的底部或地板是深注入区(105),该深注入区的掺杂与独立电压控制的硅区域(110)的掺杂相反。独立电压控制的硅区域(110)的顶部或天花板是诸如注入在基板中的埋设的氧化物(103)。独立电压控制的硅区域的侧部是深沟槽隔离(106)。通过接触结构(107)施加独立电压控制的硅区域(110)的电压,该接触结构(107)形成得通过埋设的氧化物(103)。
申请公布号 CN103503140A 申请公布日期 2014.01.08
申请号 CN201280019453.8 申请日期 2012.03.14
申请人 国际商业机器公司 发明人 K.R.埃里克森;P.C.保内;D.P.保尔森;J.E.希茨;G.J.乌尔曼;K.L.威廉斯
分类号 H01L27/108(2006.01)I;H01L27/12(2006.01)I;H01L21/8242(2006.01)I 主分类号 H01L27/108(2006.01)I
代理机构 北京市柳沈律师事务所 11105 代理人 邱军
主权项 一种半导体芯片(100),包括:独立电压控制的硅区域(110),还包括:深注入区(105),该深注入区(105)的掺杂与该半导体芯片(100)的基板掺杂相反,该深注入区(105)形成该独立电压控制的硅区域(110)的底部;埋设的氧化物(103),形成该独立电压控制的硅区域(110)的顶部;深沟槽隔离(106),形成该独立电压控制的硅区域(110)的侧部;以及接触结构(107),由穿过该埋设的氧化物(103)形成的导电材料制成,以对该独立电压控制的硅区域(110)提供电接触。
地址 美国纽约阿芒克