集成电路芯片测试分选系统双通道测试装置

摘要

本实用新型提供一种集成电路芯片测试分选系统双通道测试装置，包括斜置下料槽，所述斜置下料槽上方延伸方向线上设有与斜置下料槽对接的储料管，所述储料管出料端口与下料槽上端口之间设有由往复气缸驱动的用于控制出料的挡杆，斜置下料槽下方的机台上设置有可左右滑移运行的双通道换道机构，下料槽下侧端设置有交叉控制下料槽末端两个芯片下料的手指气缸，所述手指气缸具有挡住末端第一芯片下落的第一手指和用于按住第二芯片的第二手指，所述双通道换道机构下方设置有通往芯片测试工位的导槽，本实用新型结构简单，可控制逐个芯片下料并通过双通道换道机构实现双通道工位测试，自动化程度高，大大提高了芯片的测试效率。

主权项

一种集成电路芯片测试分选系统双通道测试装置，包括斜置下料槽，其特征在于，所述斜置下料槽上方延伸方向线上设有与斜置下料槽对接的储料管，所述储料管出料端口与下料槽上端口之间设有由往复气缸驱动的用于控制出料的挡杆，斜置下料槽下方的机台上设置有可左右滑移运行的双通道换道机构，下料槽下侧端设置有交叉控制下料槽末端两个芯片下料的手指气缸，所述手指气缸具有挡住末端第一芯片下落的第一手指和用于按住第二芯片的第二手指，所述双通道换道机构下方设置有通往芯片测试工位的导槽。