发明名称 一种测量微焦点X射线源有效焦点尺寸的方法
摘要 本发明公开了一种较为精确的测量微焦点X射线源有效焦点尺寸的方法。首先在焦点f前方某处放一块由钨、钨合金或铂等高密度材料制作有较强吸收射线能力的平板,其上正对焦点处钻有一个直径为d的微孔(直径可适当大于焦点f尺寸);在距离微孔为g处放一探测器(或胶片),以获取焦点f通过微孔后成形的像的尺寸D;然后保持焦点f与探测器(或胶片)的距离不变,将平板向探测器(或胶片)方向移动一小段距离,测量微孔到探测器(或胶片)的距离g′和焦点f像的尺寸D′;最后根据上述所获取的数据计算出焦点f的大小。本发明适用于有效焦点尺寸小于50μm、电压小于225kV的微焦点X射线源的有效焦点尺寸测量。
申请公布号 CN103499830A 申请公布日期 2014.01.08
申请号 CN201310489357.6 申请日期 2013.10.17
申请人 重庆大学 发明人 侯文生;吴小鹰;夏楠
分类号 G01T1/29(2006.01)I;G01B21/00(2006.01)I 主分类号 G01T1/29(2006.01)I
代理机构 北京同恒源知识产权代理有限公司 11275 代理人 赵荣之
主权项 一种测量微焦点X射线源有效焦点尺寸的方法,其特征在于:包括以下步骤:步骤1:在焦点f前方某处放一块能吸收X射线的平板,在其正对焦点处钻一直径为d的微孔;步骤2:在离平板距离为g处放一探测器或胶片;步骤3:获取焦点f通过微孔后成形的像的尺寸D;步骤4:保持焦点f与探测器或胶片的距离不变,将平板移动一小段距离;步骤5:测量移动后的平板到探测器或胶片的距离g′;步骤6:测量焦点f通过微孔后成形的像的尺寸D′;步骤7:通过步骤1到步骤6中所获取的数据计算焦点f的大小。
地址 400044 重庆市沙坪坝区沙坪坝正街174号