| 主权项 |
2.如申请专利范围第1项之打线方法,其中,前述线尾长度测定构件,系用以在前述线尾形成球体之放电枪或半导体晶片。3.如申请专利范围第1项之打线方法,其中,系以前述第1项之方法算出线尾长度,根据此计算结果修正前述夹具二来紧时机。4.如申请专利范围第3项之打线方法,其中,前述夹具之夹紧时机之修正,系根据结合于第2结合点后毛细管上昇时之上昇速度,以及所测定之线尾长度与基准之线尾长度之差,来修正夹紧时机。5.一种打线装置,系将引线结合于第2结合点后,毛细管上昇既定量之后闭合夹具,使毛细管及夹具一起上昇自第2结合点之根部剪断引线,并自毛细管下端延伸出用以形成球体之线尾,其特征在于,具备:微量电压施加电路,以对引线施加微量电压;接触检测部,系将延伸出前述线尾之毛细管移动至线尾长度测定构件上方之测定位置,降下毛细管使线尾前端接触前述线尾长度测定构件时,输出检测信号;以及电脑,系根据前述线尾长度测定构件之位准、前述毛细管为进行线尾测定而下降前之毛细管之位置、引线接触线尾长度测定构件时之毛细管之位置,或根据毛细管为进行线尾测定而下降前之自前述线尾长度测定构件起之毛细管之高度、与前述接触检测部之检测信号输出为止毛细管下降之长度,来计算出线尾长度。6.如申请专利范围第5项之打线装置,其中,前述线尾长度测定构件,系用以在前述线尾形成球体之放电枪或半导体晶片。7.如申请专利范围第5项之打线装置,其中,前述电脑除算出前述线尾长度,并根据该计算结果修正前述夹具之夹紧时机。8.如申请专利范围第7项之打线装置,其中,以前述电脑进行之前述夹具夹紧时机之修正,系根据结合于第2结合点后毛细管上昇时之上昇速度,以及所测定之线尾长度与基准之线尾长度之差,来修正夹紧时机。图式简单说明:图1,系显示本发明之打线装置之一实施形态的说明图。图2(a)、(b),系显示线尾长度测定方法之一实施形态的说明图。图3(a)、(b),系显示线尾长度测定方法之其他实施形态的说明图。图4,系夹具之夹紧开始时机之修正的说明图。图5(a)-(g),系显示一般之打线方法之步骤的说明图。图6,系用以说明夹具开启量引起之线尾变化的图。 |
