根据雷射光之位移变化检测待测区域之检测系统,申请号TW102217587-传众专利搜索

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法人/股东/高管

发明名称	根据雷射光之位移变化检测待测区域之检测系统
摘要
申请公布号	TWM469482	申请公布日期	2014.01.01
申请号	TW102217587	申请日期	2013.09.18
申请人	豪勉科技股份有限公司台北市大同区承德路1段70号3楼	发明人	陈正泰;李志宏;陈志伟
分类号	G01N21/00	主分类号	G01N21/00
代理机构		代理人	严国杰台北市大同区承德路1段70之1号6楼
主权项
地址	台北市大同区承德路1段70号3楼

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