发明名称 | 一种梨树叶片上梨锈病斑的识别方法 | ||
摘要 | 本发明公开了一种梨树叶片上梨锈病斑的识别方法,包括以下步骤:(1)取梨树叶片,采集梨树叶片在550nm、565nm、575nm、623nm和655nm处的单波段图像;(2)对梨树叶片在550nm、575nm、655nm处的单波段图像进行一阶导数变换,并作为三个特征值输入经训练的高斯过程分类模型,提取得到病斑图像;(3)对梨树叶片在565nm、623nm处的单波段图像作差分运算并对结果图像二值化,提取得到锈点图像;(4)将病斑图像和锈点图像重叠合并,如果单个病斑和单个锈点合并形成新的连通区域,则该病斑为梨锈病斑。本发明不但操作简单,而且准确率高,有利于及时有效地对梨锈病进行预防及控制。 | ||
申请公布号 | CN103487380A | 申请公布日期 | 2014.01.01 |
申请号 | CN201310422474.0 | 申请日期 | 2013.09.16 |
申请人 | 浙江科技学院 | 发明人 | 赵芸;徐兴;樊靖烨 |
分类号 | G01N21/25(2006.01)I | 主分类号 | G01N21/25(2006.01)I |
代理机构 | 杭州天勤知识产权代理有限公司 33224 | 代理人 | 胡红娟 |
主权项 | 一种梨树叶片上梨锈病斑的识别方法,其特征在于,包括以下步骤:(1)取梨树叶片,采集梨树叶片在550nm、565nm、575nm、623nm和655nm处的单波段图像;(2)对梨树叶片在550nm、575nm、655nm处的单波段图像进行一阶导数变换,并作为三个特征值输入经训练的高斯过程分类模型,提取得到病斑图像;(3)对梨树叶片在565nm、623nm处的单波段图像作差分运算并对结果图像二值化,提取得到锈点图像;(4)将病斑图像和锈点图像重叠合并,如果单个病斑和单个锈点合并形成新的连通区域,则该病斑为梨锈病斑。 | ||
地址 | 310023 浙江省杭州市西湖区留和路318号 |