| 发明名称 | 一种新型挠性电路板缺陷检测装置及方法 | ||
| 摘要 | 本发明涉及一种新型挠性电路板缺陷检测装置，包括：控制系统、检测平台和输送待测电路板的传送带；它还包括XY轴运动平台和两个沿着X轴方向设置的摄像头；两块待测电路板依次平放在沿着X轴方向设置的传送带上，传送带安装在检测平台上；两个摄像头通过XY轴运动平台正对待测电路板的上平面平移，一个摄像头对应一块电路板。本发明还涉及一种新型挠性电路板缺陷检测方法。本发明具有高效、准确检测的优点，属于电路板的视觉检测技术领域。 | ||
| 申请公布号 | CN103487442A | 申请公布日期 | 2014.01.01 |
| 申请号 | CN201310441800.2 | 申请日期 | 2013.09.25 |
| 申请人 | 华南理工大学 | 发明人 | 陈安;胡跃明;何继贤;吴忻生 |
| 分类号 | G01N21/88(2006.01)I | 主分类号 | G01N21/88(2006.01)I |
| 代理机构 | 广州市华学知识产权代理有限公司 44245 | 代理人 | 杨晓松;付茵茵 |
| 主权项 | 一种新型挠性电路板缺陷检测装置，包括：控制系统、检测平台和输送待测电路板的传送带，其特征在于：它还包括XY轴运动平台和两个沿着X轴方向设置的摄像头；两块待测电路板依次平放在沿着X轴方向设置的传送带上，传送带安装在检测平台上；两个摄像头通过XY轴运动平台正对待测电路板的上平面平移，一个摄像头对应一块电路板。 | ||
| 地址 | 511458 广东省广州市南沙区环市大道南路25号华工大广州产研院 | ||