发明名称 一种横向集成SOI半导体功率器件
摘要 本发明涉及半导体技术,具体的说是涉及一种具有n+埋层的横向集成的准超结SOI半导体功率器件。本发明的其元胞结构包括依次层叠设置的衬底、埋氧层和SOI层,还包括高压pLDMOS、高压nLDMOS和低压CMOS;所述高压pLDMOS、高压nLDMOS和低压CMOS设置在SOI层上,高压nLDMOS设置在高压pLDMOS和低压CMOS之间;其特征在于,所述高压pLDMOS、高压nLDMOS和低压CMOS之间通过浅槽介质隔离区和层间介质相互隔离,所述层间介质与埋氧层的上表面连接,浅槽介质隔离区设置在层间介质上表面。本发明的有益效果为,可以实现100V~700V各种性能优良的高压器件,具有高速、高集成度、低导通损耗的优点。本发明尤其适用于横向集成SOI半导体功率器件。
申请公布号 CN103489865A 申请公布日期 2014.01.01
申请号 CN201310421629.9 申请日期 2013.09.16
申请人 电子科技大学 发明人 乔明;李燕妃;胡利志;吴文杰;许琬;蔡林希;陈涛;张波
分类号 H01L27/088(2006.01)I;H01L21/762(2006.01)I 主分类号 H01L27/088(2006.01)I
代理机构 成都宏顺专利代理事务所(普通合伙) 51227 代理人 李顺德;王睿
主权项 一种横向集成SOI半导体功率器件,其元胞结构包括依次层叠设置的衬底(1)、埋氧层(2)和SOI层(3),还包括高压pLDMOS(61)、高压nLDMOS(62)和低压CMOS(63);所述高压pLDMOS(61)、高压nLDMOS(62)和低压CMOS(63)设置在SOI层(3)上,高压nLDMOS(62)设置在高压pLDMOS(61)和低压CMOS(63)之间;其特征在于,所述高压pLDMOS(61)、高压nLDMOS(62)和低压CMOS(63)之间通过浅槽介质隔离区(4)和层间介质(41)相互隔离,所述浅槽介质隔离区4与埋氧层2的上表面连接,层间介质41设置在浅槽介质隔离区4上表面。
地址 611731 四川省成都市高新区(西区)西源大道2006号